『壹』 thorlab跟日本西格瑪光機的對比
選擇光學元件，並不是一味的只看品牌，最重要的是質量，可以通過以下幾個方面來選擇光學元件：
面型精度採用精密拋光表面與理想平面的偏差量來表徵。因為使用可以測量波面的干涉儀來測量，所以也被稱為反射波面精度。面型精度的干涉條紋數的單位是[λ]。λ是干涉儀所使用的氦氖激光器的波長632.8nm。另外，表徵面型精度有兩個參數：PV和RMS值。
PV值是Peak to Valley（峰值與谷值的差值），RMS值是Root Mean Square（均方根值），根據經驗RMS值是PV值的1/3左右。因為象平面這類的簡單形狀，大多使用PV值來表示，所以本產品目錄中的面型精度使用PV值表示。例如，面型精度的PV值是1/2λ時，表示與理想平面的最大偏差值是316.4nm。參見：http://www.micsense.com/case_detail/newsId=160.html
反射率，透過率隨波長變化特性
產品目錄發布了幾乎所有光學元件的反射率，透過率隨波長變化的特性曲線。這些反射率，透過率的特性曲線是使用分光光度計測量的結果。※5
產品目錄中不僅發布了設計保證波長譜區的數據，也發布了更寬波長譜區的數據。保證波長譜區之外的數據，重復性較差而且互相差異也較大，信賴這些數值是危險的。
在分光鏡等產品中，只發布了透過率的特性曲線，沒有發布反射率的特性曲線。因為多層電解質膜是沒有吸收的，將特性曲線的縱軸倒過來，就可以很容易地推測出其反射率。※6
另外，測量結果中的入射角度和偏光方向是有規定的。在反射率測量的時候，入射角度為5°或者45°，在透過率測量的時候，入射角度為0°或者45°。
反射型光學元件在45°角入射時，P偏光和S偏光的曲線都有發表。這是因為多層電解質膜的反射率特性隨偏光方向變化很大。但是有時受到版面限制。
曲線中沒有發布P偏光和S偏光的的結果，這時發布的結果為P偏光和S偏光的平均值。*5 一部分光學元件使用了薄膜設計的模擬數據。
*6 因為鉻膜有吸收，1 - 透過率≠反射率。通過以上這些參數就能很好的選出你需要的光學元件。參見：http://www.micsense.com/case_detail/newsId=160.html
『貳』 日本製造的質量真的就那麼好嗎
好的東西經得起考驗，不論國界。
其實國產本身質量也不錯，只是心思主要都花在了宣傳上，還是為了搶市場。而像華為魅族這樣一心做研發的企業，就沒花多大心思在宣傳上。群眾的眼光是雪亮的。
不能因為日本以前對中國不友好就一股腦抵制，用實力說話。雖然我平時也只講究性價比，很少買昂貴的東西。但好的東西和人還是值得認可的。就比如有些人很優秀，但跟我不是一個世界的人，我還是會給他們點贊，認可。但我還是會明白，我們始終不是一個世界的人，沒必要非要做朋友。
