A. 有没有可替代美国EMI3410胶或EMI3410-VM胶水的产品
有，目前光通信器件行业封装胶水正在使用3410-VM胶材料的客户迫于成本和保质期短，供货周期长等压力。都有替代的需求。
OPTICAL HB3410胶水是基于EMI 3410-VM材料的特点进一步开发出来的。
能够通过UV和加热固化，具有高粘度、精密固定、耐高 、极低CTE 等特点.。
1、OPTICAL HB3410胶水针对WDM无源器件封装适合于固化速度快、低应力、流水线生产等要求；
2、耐老化测试具有高可靠性，高精度，低CTE；
3、适用于WDM无源器件组装多点组装，产品管控简单；
4、成熟应用，批次供货性能稳定；
5、适用于多种光器件封装工艺。
B. EMC中如何解决30Mhz的辐射不通过：是一款直流变频空调
楼主，你给的信息太少了吧。不过一般解决辐射问题有两种途径，一是挖出根源，二是围追堵截。
前者，找出辐射源，通过修改电路（加EMI器件，换器件等）消除之；
后者，找出辐射源，贴EMI屏蔽胶布，或者加磁环；
应该来说，前者是最好最彻底的方法，但是意味着你很可能要改版，周期长；
后者是一种workaround，规避的方法，但是在项目周期紧张时，很常用；
那么现在的问题是找到辐射源，看看你的电路图，什么地方可能出30MHz的频率的呢，PWM?单片机工作频率？或者其它。一般两种方法
一是，逐个关掉电路板子上你怀疑的模块，看辐射何时消失；
二是，用近场探头，这个你懂得；
希望有所帮助。
C. EM10483 与EMI 3410-VM胶有什么区别哪个更好。
其实有款台湾产品的KU-6350也非常好，性能都一样，订货快，价格也便宜很多
D. 水浸聚焦探头有近场么怎么算
曲率半径增加的长度是空气中增加长度的1/4倍。
因为我把放大镜放入水中，放大倍数非常明显的变校至于量变的具体数字和推导，不知，只是个人猜的。
因为光在水中比空气中慢1/4，而显像是平面，致使显像被放大的量是空气放大量的1/16倍。
E. 频谱分析仪和网络分析仪的区别是什么，它们用在什么方面
从用途上区分。频谱分析仪主要用于测量未知信号的特性，而网络分析仪用来测量元器件（如电缆、接头、放大器、混频器等）的特性。
F. 国产EMI品牌如何 日本进口的有哪些品牌价格优势
各有优点…
G. 家用电器电磁辐射测量方法
利用电磁场高速自动扫描技术测量电磁辐射
电磁兼容测试对即将进入市场的电子产品是非常重要的一项测试，但以往的测试只能得出能否通过的结果，不能提供更多有用信息。本文介绍利用高速自动扫描技术测量电磁辐射，检测PCB板上电磁场的变化情况，使工程技术人员在进行电磁兼容性标准测试前就能发现相关问题并及时予以纠正。
随着当今电子产品主频提高、布线密度增加以及大量BGA封装器件和高速逻辑器件的使用，设计人员不得不通过增加PCB板的层数来减少信号与信号间的相互影响。同时在大量便携式终端设备中，为了降低系统功耗必须采用多电平方案，而这些设备还有模拟或者RF电路，需要采用多种地，又必须使用电源平面和地平面分割的技术。因此PCB板上的信号之间存在大量辐射干扰，造成设备功能故障或者工作不稳定，而且所有信号对外形成很强电磁辐射，使得EMC测试也成为产品上市的一个障碍。
目前大部分硬件工程师还只是凭经验来设计PCB，在调试过程中，很多需要观测的信号线或者芯片引脚被埋在PCB中间层，无法使用示波器等工具去探测，如果产品不能通过功能测试，他们也没有有效的手段去查找问题的原因。要想验证产品的EMC特性，只有把产品拿到标准电磁兼容测量室去测量，由于这种测量只能测产品对外辐射情况，就算没有通过也不能为解决问题提供有用的信息，因此工程师只能凭经验去修改PCB，并重复试验。这种试验方法非常昂贵，而且可能耽误产品的上市时间。
当然，现在有很多高速PCB分析和仿真设计工具，可以帮助工程师解决一些问题，可是目前在器件模型上还存在很多限制，例如能解决信号完整性(SI)仿真的IBIS模型就有很多器件没有模型或者模型不准确。要精确仿真EMC问题，就必须用SPICE模型，但目前几乎所有的ASIC都不能提供SPICE模型，而如果没有SPICE模型，EMC仿真是无法把器件本身的辐射考虑在内的(器件的辐射比传输线的辐射大得多)。另外，仿真工具往往要在精度和仿真时间上进行折中，精度相对较高的，需要的计算时间很长，而仿真速度快的工具，其精度又很低。因此用这些工具进行仿真，不能完全解决高速PCB设计中的相互干扰问题。
我们知道，在多层PCB中高频信号的回流路径应该在该信号线层临近的参考地平面(电源层或者地层)上，这样的回流和阻抗最小，但是实际的地层或电源层中会有分割和镂空，从而改变回流路径，导致回流面积变大，引起电磁辐射和地弹噪声。如果工程师能清楚电流路径的话，就能避免大的回流路径，从而有效控制电磁辐射。但信号回流路径由信号线布线、PCB电源和地分布结构以及电源供电点、去耦电容和器件放置位置和数量等多种因素所决定，故而对复杂系统的回流路径从理论上进行判定非常困难。
所以在设计阶段排除辐射噪声问题非常关键。我们用示波器能看到信号的波形，从而可帮助解决信号完整性问题，那么有没有设备能看到辐射的“图形”以及电路板上的回流呢？
电磁场高速扫描测量技术
在各种电磁辐射测量方法中，有一种近场扫描测量方法能解决这个问题，该方法基于这样的原理设计，即电磁辐射是被测设备(DUT)上的高频电流回路形成的。如加拿大EMSCAN公司的电磁辐射扫描系统Emscan就是根据这个原理制成的，它采用H场阵列探头(有32×40＝1280个探头)来探测DUT上的电流，在测量期间，DUT直接放在扫描器的上面。这些探头可以检测由于高频电流发生变化而引起的电磁场的变化，系统可提供RF电流在PCB上空间分布的视觉图像(图1)。
Emscan电磁兼容扫描系统已经在通信、汽车、办公电器以及消费电子等工业领域得到广泛应用，通过该系统提供的电流密度图，工程师在进行电磁兼容性标准测试前就能发现有EMI问题的区域并采取相应措施。
近场扫描原理Emscan的测量主要在活性近场区域(r<<λ/2π)进行，DUT上发出的辐射信号大部分被耦合到磁场探头上，少量能量扩散到自由空间。磁场探头耦合了近H场的磁通线以及PCB上的电流，另外它也获取一些近E场的微量成分。
大电流低电压电流源主要与磁场相关，而高电压小电流电压源则主要与电场相关，在PCB上，纯电场或者纯磁场都是很少见的。RF和微波电路中，电路的输入阻抗以及连接用的微带或者微带线，其阻抗都被设计为50欧姆，这种低阻抗设计使得这些元器件产生大电流和低电压变化，此外数字电路的趋势也是使用更低电压差的逻辑器件，同时活性近场区域内的磁场波阻抗远小于电场波阻抗。综合这些因素，大部分PCB活性近场区域能量都包含在近磁场中，因此Emscan扫描系统采用的磁场环适合于这些PCB的近场诊断。
所有的环是一样的，然而它们在反馈网络中的位置不同，因此反馈网络可感应各个环的响应，每个环相对参考源的响应都被测量出来并考虑为滤波转移函数。为了保证测量的线性度，Emscan测量的是这个转移函数的倒数。
由于采用了阵列天线和电子自动切换天线技术，因此测量速度大大加快，比手工单探头测量方案快几千倍，也比自动单探头测量方案快几百倍，能够快速有效判断电路修改前后的效果(图2)。快速扫描技术及其先进幅度保持扫描技术和同步扫描技术使该系统能有效捕捉瞬态事件，同时它采用能提升频谱分析仪测量精度的技术，提高了测量的精确性和可重复性。
评估PCB近场辐射干扰的测量方法
PCB辐射干扰情况的检查可分几步进行。首先确定需要扫描的区域，然后选择能充分采样扫描区域的探头(栅格7.5mm)，在100kHz～3GHz的频率范围内进行频谱扫描，并存储每个频率点的最大电平。注意，比较大的频率点可利用空间扫描在扫描区域内作进一步检查，这样可以定位干扰源以及关键电路路径。
被测板必须尽可能靠近扫描器板，因为随着距离增加，接收信噪比会降低，而且还会有“分离”效应。实际测量中，这个距离应该小于1.5cm。我们可以看到，对元件面的测量有时候可能会因为元器件的高度而使测量出现问题，因此元器件的高度必须要考虑，以对测量的电压电平进行校正。在基本检查中，需考虑分离距离校正因子。
我们可以很快得到测量结果，但是这些结果不能评判产品是否符合EMC特性，因为它测量的值是PCB板上的高频电流产生的电磁近场。而标准EMC测试是要求在开阔场地(OATS)或者在暗室进行的，距离为3米(即远场)。
尽管Emscan的测量不能取代标准EMC测试，但是实践证明，它确实有很多用途。通过对测量结果的分析，可以得出很多结论以利于产品的后续开发。除了得到电压电平外，下列信息也非常重要：干扰产生点、干扰分布、覆盖大区域的干扰传导路径、干扰被限制在PCB上的狭窄区域以及内部结构或临近I/O模块间的耦合等，还可以看到数字电路和模拟电路分开的效果。
上述测量可作为PCB设计质量评估的一个标准，进一步来说，如果我们已经知道了一个类似的PCB的EMC特性，我们完全可以在产品开发早期对EMC特性进行比较可靠的评估，例如是否应该采用屏蔽手段等。
特别值得一提的是，电磁场高速扫描系统还能揭示瞬态EMI问题，瞬态EMI问题在电磁兼容性测量中往往不会被检测到，但是它们会影响产品的性能和可靠性。
PCB抗干扰性能的评估
在实际使用中，所有电子设备都会受到电磁场的干扰，如果一个设备不能满足抗干扰要求，也不进行屏蔽，那么该设备的性能就会受电磁干扰的影响。事实表明，干扰信号的频率可能会有几百MHz，这些干扰主要通过连接的导体进行耦合，因此I/O模块的抗干扰设计非常重要。为了增强产品的抗干扰性能，有时不得不增加滤波等手段，这意味着会增加产品的成本。从这种角度上看，寻找一种能优化所有电路和元器件的解决方案非常重要。
通过适当修改上面提到的测量方法，在产品开发和测试阶段就能够正确评估产品的抗干扰性能。改进后的方法如下：把PCB放在扫描器板上进行频谱扫描以决定PCB的干扰频率，然后把该频率正弦波干扰信号用夹子或者适当耦合设备(如平衡线上用的T-LISN)耦合到I/O线或导体上，采用步距10MHz、频率范围能满足10MHz到150MHz(避免与PCB板的干扰频率重叠)、功率－20到0dBm(取决于耦合器件和PCB的类型)的发生器，执行与所加干扰信号一致的频率进行空间扫描。干扰信号从耦合点到PCB内的分布情况就能非常清楚地在空间扫描图形上看出来，然后可以根据下面一些原则对空间扫描结果进行解释，包括PCB上哪些区域分布有耦合上去的干扰信号、插入滤波器的有效性(衰减干扰信号)、临近I/O导体耦合情况以及PCB接地层或者区域的有效性等。
H. 国内有哪些分布式光纤测温系统
额。。我是广州神科光电科技有限公司的，是做分布式光纤测温系统，自主研发，在分布式测温光纤上技术相对成熟。
有需要的话可以Q47276546
I. 什么是EMI测试
EMI测试是电磁干扰（Electro-Magnetic Interference）测试。
J. 决定示波器探头的价格都有哪些因素
示波器的探头有非常多的种类，不同的性能，比如高压，差分，有源高速探头等等，价格也从几百元到上万元。价格的主要决定因素当然是带宽和功能。探头是示波器接触电路的部分，好的探头可以提供测试需要的保真度。为做到这一点，即使无源探头，内部也必须有非常多的无源器件补偿电路(RC网络)，更多Agitek安泰测试了解。