‘壹’ thorlab跟日本西格玛光机的对比
选择光学元件，并不是一味的只看品牌，最重要的是质量，可以通过以下几个方面来选择光学元件：
面型精度采用精密抛光表面与理想平面的偏差量来表征。因为使用可以测量波面的干涉仪来测量，所以也被称为反射波面精度。面型精度的干涉条纹数的单位是[λ]。λ是干涉仪所使用的氦氖激光器的波长632.8nm。另外，表征面型精度有两个参数：PV和RMS值。
PV值是Peak to Valley（峰值与谷值的差值），RMS值是Root Mean Square（均方根值），根据经验RMS值是PV值的1/3左右。因为象平面这类的简单形状，大多使用PV值来表示，所以本产品目录中的面型精度使用PV值表示。例如，面型精度的PV值是1/2λ时，表示与理想平面的最大偏差值是316.4nm。参见：http://www.micsense.com/case_detail/newsId=160.html
反射率，透过率随波长变化特性
产品目录发布了几乎所有光学元件的反射率，透过率随波长变化的特性曲线。这些反射率，透过率的特性曲线是使用分光光度计测量的结果。※5
产品目录中不仅发布了设计保证波长谱区的数据，也发布了更宽波长谱区的数据。保证波长谱区之外的数据，重复性较差而且互相差异也较大，信赖这些数值是危险的。
在分光镜等产品中，只发布了透过率的特性曲线，没有发布反射率的特性曲线。因为多层电解质膜是没有吸收的，将特性曲线的纵轴倒过来，就可以很容易地推测出其反射率。※6
另外，测量结果中的入射角度和偏光方向是有规定的。在反射率测量的时候，入射角度为5°或者45°，在透过率测量的时候，入射角度为0°或者45°。
反射型光学元件在45°角入射时，P偏光和S偏光的曲线都有发表。这是因为多层电解质膜的反射率特性随偏光方向变化很大。但是有时受到版面限制。
曲线中没有发布P偏光和S偏光的的结果，这时发布的结果为P偏光和S偏光的平均值。*5 一部分光学元件使用了薄膜设计的模拟数据。
*6 因为铬膜有吸收，1 - 透过率≠反射率。通过以上这些参数就能很好的选出你需要的光学元件。参见：http://www.micsense.com/case_detail/newsId=160.html
‘贰’ 日本制造的质量真的就那么好吗
好的东西经得起考验，不论国界。
其实国产本身质量也不错，只是心思主要都花在了宣传上，还是为了抢市场。而像华为魅族这样一心做研发的企业，就没花多大心思在宣传上。群众的眼光是雪亮的。
不能因为日本以前对中国不友好就一股脑抵制，用实力说话。虽然我平时也只讲究性价比，很少买昂贵的东西。但好的东西和人还是值得认可的。就比如有些人很优秀，但跟我不是一个世界的人，我还是会给他们点赞，认可。但我还是会明白，我们始终不是一个世界的人，没必要非要做朋友。
