⑴ 厚度测量可以使用哪些仪器
1.纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
2.薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
3.涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。
4.激光测厚仪：利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。
5.X射线测厚仪：主要应用行业于有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。
6.超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
对于薄膜厚度测量，深圳大成精密一直持续加大研发投入和不断致力于技术创新。其产品精度极其高，应用甚广，尤其适合厚度要求达到纳米级的透明多层物体的厚度测量。